微克儀器開发出顶针探针荷重阻抗試驗機
2018年上半(ban)年，微(wei)克檢測設備限公司結合市場上客(ke)戶需要，開发出探针顶针荷(he)重阻抗行程試驗機。目前(qian)中國的(de)實體經濟由於用人成本的增加，加上人(ren)員难招难(nan)管理，已經開始慢慢向自動化(hua)或半自動化(hua)方向发展。自動化(hua)的程(cheng)度提高，在檢測(ce)方面會使用到大量的顶针探针以(yi)測試電子設備的一些性能指標。所以(yi)對顶针探针的一些測試指標就(jiu)有所要求。
顶针探针是通過自身的弹性接(jie)触面以及力度來保證與電子產(chan)品的有效接触。弹力(li)太小或太(tai)大、接触電阻太大、行程不符合要求都會對測試產生影(ying)響(xiang)。所以就需要對此些(xie)数據進行(xing)檢測，甚至於進行全檢。探针目前大致分類情况如下，探针根據電(dian)子測試用途可分為：
A、光電路板測試探针：未安裝元器件前的電路板測試和只開(kai)路、短(duan)路檢測探针，國内大部分的探针(zhen)產品均(jun)可替代進口產品；
B、在線測試探针：PCB線路板安裝元器件后的檢測探针；產品的核心(xin)技術還是掌握在(zai)國外公司手中，國内部分探针(zhen)產品已(yi)研发成功，可替代進口探针產品(pin)；
C、微電(dian)子測試探(tan)针：即晶圆測(ce)試(shi)或芯片IC檢測探针，核心技(ji)術還是掌握在國外公司手中(zhong)，國内生產廠商积極參與研发，但只有一小部分(fen)成功生(sheng)產。
綜(zong)上述(shu)，小小的探针但技術要求是挺高(gao)的。目前我司(si)與國(guo)内诸多客戶有合作，交付(fu)探针荷重阻抗行程(cheng)試驗機。可(ke)以測試探针的荷重-行程-電阻数據。同時還可以做寿命(ming)測試(shi)。有需(xu)要(yao)可以LX我們。此種機器在硬件上面(mian)還是有诸多(duo)要求，因為接触電阻小，我們需要盡可能减少治具(ju)產生的阻抗(kang)误差。
