多头按键開關荷重CR測試機SA2032B新品上市
產品簡介：
多(duo)头按键開(kai)關荷重CR測試機(ji)是一款專門针對消費類電子產品按键性能檢測的自動化測試設備，廣泛適用於手機、筆記本(ben)電脑等設備的按(an)键測試工作。该設備能够全面檢測按(an)键的峰點、手感、行程等多項關键性能指(zhi)標，满足精密(mi)製造及品質管理的嚴格(ge)要求。 測試效率方(fang)面表現突出，以84keys键(jian)盘為例，可一次性(xing)完成整(zheng)體測試，單次測(ce)試周期仅需10秒，大幅(fu)提升產線檢測效率(lv)，適用於線上全檢流程的部署。
多(duo)头按键開(kai)關荷重CR測試機作為我司三(san)轴機的一款升(sheng)級版本，在測試效率方面得(de)到了顯著提(ti)升。该設備在多头並行測試架構的(de)支持下，可以大幅縮短單個產品的(de)測試(shi)周期，將原本需要几十(shi)秒才能完成的一版產品測試時間壓縮至10秒(miao)以内。
測試產品：
本公司專業檢測電脑(nao)键盘、键盘(pan)软體電路板(ban)、手機按键、手機電路板上(shang)按键等按键類產品。
試驗機參数：
測(ce)試荷重：10、5、2kgf（任選8個(ge)或者16個(ge)或者32個個(ge)）
顯示荷重：0.01gf
測試行程：100mm
顯示行程：0.001
測定速度：1-300mm/min
傳動機構：滚珠螺杆
多(duo)头按键開(kai)關荷重CR測試機特點：
在原(yuan)有測(ce)試数據基礎之上，Peak Force、Return Force、Distance及Click率等多項關键參数均可直(zhi)接在圖表上實時顯示(shi)具體数值，无需進(jin)行繁琐的人工計算工
量測曲線(xian)圖由電脑記忆(yi)，可随時放大(da)、縮小，一张(zhang)A4紙(zhi)可(ke)任意指定放置N個(ge)曲線(xian)圖。
測定專桉可(ke)輸入上、下限規格值，測定結果可自動(dong)判定OK或NO。
可(ke)輸入測定行(xing)程及荷重，電脑(nao)自動控製。
荷重單位顯示N、Ib、gf、kgf可(ke)自由切换(huan)
電(dian)脑直(zhi)接列印及储存荷重-行程曲線圖、檢查(cha)報表。（不需(xu)要(yao)方格紙，一般A4紙即可）
測試资料储(chu)存於硬碟（每一筆资料(liao)皆可储存，不(bu)限(xian)次数）
測試条件皆由電(dian)脑画面設定（含(han)測試行(xing)程、速度、次数、空壓、暂停時間等等(deng)）
檢驗報表抬(tai)头(tou)内容可随時修改（中英文皆可(ke)）
檢驗報表可自(zi)動產(chan)生，不须(xu)再作輸入。
檢驗報(bao)表可轉换(huan)為Excel等文书報表格式(shi)。
